宜沃检测
服务咨询电话
15071020417

SEM现场/云现场-全国

发表时间:2021-12-30 13:29作者:宜沃检测

SEM现场/云现场-全国

  • 项目简介

云现场实验是宜沃检测推出的一款黑科技视频网络体验,用户只需要一部电脑或者移动设备,即可在任何时间、任何地点发起或参与测试过程,实现各种信息的实时共享与协作。测试过程实时直连测试仪器屏幕,与测试老师一对一沟通选区拍摄,所见即所得,媲美现场实验。

一、预约云现场注意事项:

1、抽真空时间含在测试总时长内,即从样品进仓开始计时,常规样品抽真空时间5-10分钟,孔道复杂或较大样品如混凝土,珊瑚沙,气凝胶,水凝胶,木材等样品抽真空时间较长,可能在30分钟或以上;

2测试项目含形貌拍摄,能谱点扫,线扫和面扫,最好在提交订单的时候填写好测试要求,尽量不要测试过程临时增加需求,如需临时增加测试内容最终收费会按实际测试时长计算;

3云视频测试时长半小时起约,不同样品拍摄速度不均一,平均下来,拍摄速度一般4个样/小时(仅供参考),需要拍摄高倍并且需要打能谱的样品一般拍摄速度更慢些,具体请根据实际拍摄要求准确预约时长

4、最好不要超时,一般情况下,后面会安排其他客户测试,尽量预约足够时间,比如约了 2 小时,最多可测试时间是 2 小时,2 小时后会结束测试,请合理安排时间;如果后面时间没有其它客户,可以适当延长,费用按实际最终测试总时长计算,多退少补;

5、如临时有事需取消预约,请提前 24 小时联系,可以免费取消,如未提前告知,造成机时损失,按预约时间半价收费;

6、在拍摄过程中遇到问题您有权随时叫停测试,最终测试费用会根据实际测试时长多退少补。

二、可做的测试项目:

形貌、能谱点扫、能谱线扫、能谱面扫(mapping);可镀金,非磁、弱磁、强磁样品均可拍摄。

1形貌:仪器放大倍数范围是100-20W倍,常规样品可以拍摄到8-10W倍,导电性不好或磁性样品大于8W倍可能会不清晰。
2能谱:SEM能谱一般只能测C(含C)以后的元素,B元素也能做,但是不准,不建议做)如果需要打能谱,需要备注好测试位置以及能谱打哪些元素,需要注意的是制样时待测元素不能与基底成分有重合,如果要测C元素,样品不要分散到含C的基底上,可以分散到硅片,锡纸上,如果要测Si元素,注意不要制样到硅片上。

3镀金:为了保证拍摄效果,一般导电差或者是强磁性的样品都需要镀金之后进行拍摄

非磁、磁性(弱磁、强磁)定义:

含铁、钴、镍磁性元素均为磁性样品,吸铁石能吸起来为强磁,吸铁石吸不起来为弱磁。

备注:磁性分硬磁和软磁,有些材料对外不表现磁性,但加磁场后容易磁化,受热后磁性增强。

  • 结果展示

1SEM 形貌的测试参数解读如下图所示:

2SEM-EDS能谱测试参数解读如图所示:

点扫:


线扫:

面扫(Mapping):

  • 样品要求


一、制样说明


1、粉体样品,常规粉末直接粘到导电胶上测试,如需分散后测试请提前说明;

2、液体样品,测试老师根据样品要求及实验室条件,随机选择滴到硅片或铝箔上,如有指定要求请提前说明;

3、薄膜或块体,请标明测试面,如需测试截面,请自行自备截面或提前说明截面制备方式。


二、样品要求

粉末、液体、薄膜、块体均可测试,粉体样品大概10mg,块体样品要求长宽≤1cm,厚度≤1cm

混凝土,珊瑚沙,气凝胶等需要抽真空时间非常长的样品尺寸请尽可能直径≤5mm,厚度≤5mm

需要脆断的样品,尺寸需要≥2*2cm,厚度<0.5cm,较厚的样品建议尺寸准备大些;

要求样品无毒、无放射性、干燥无污染、热稳定性好、耐电子束轰击


三、注意事项

1.     样品含水,湿润是不能做SEM的;

2.     易分解样品需明确分解条件(如温度等),若样品极易分解可能不能安排测试,因为分解后产生物质可能对测试仪器造成影响;

3.     水凝胶等易吸潮样品寄样前请先确认样品暴露 4-5h 内是否会出现明显的吸潮现象,测试过程中样品吸潮会影响拍摄的同时也会对仪器造成损伤;

4.     导电性不好(如半导体金属氧化物、生物样品及塑料、陶瓷等)或强磁样品建议选择喷金,不喷金可能会影响拍摄效果。

  • 常见问题

1. 不导电或导电差的样品,为什么要喷金?

SEM成像,是通过detecter获得二次电子和背散射电子的信号。如样品不导电或导电性不好,会造成样品表面多余电子或游离粒子的累积不能及时导走,一定程度后就反复出现充电放电现象(charging),最终影响电子信号的传递,造成图像扭曲,变形、晃动等现象,喷金后样品表面导电增强,从而避免积电现象。

2. 喷金后,对样品形貌是否有影响?

样品表面喷金后,只是在其表面覆盖了几个到十几个金原子层,厚度只有几个纳米到十几个纳米而已,对于看形貌来说,几乎是没有什么影响的。

3. 扫描电镜能谱点扫,线扫和mapping之间的区别?

能谱点扫,线扫和mapping分别是在点范围,线范围,和面范围内获得样品的元素半定量信息,线扫和mapping除此之外还能分析元素在线或面范围内的分布情况。它们的意义在于点扫可以测试材料某一位置的元素种类和含量,面扫(mapping)的意义主要在于了解材料元素的区域分布,线扫的意义在于了解材料一条线上各个点的元素含量的变化。

4.   磁性样品会对电镜有影响吗?

电子枪发射出的电子,一般都是由磁场汇聚,当样品含有磁性的时候很容易磁化电镜的"心脏"部件-极靴,同时容易吸附到极靴表面或光学通道上,因此磁性样品的测试可能会给电镜带来损害,承接磁性样品的检测单位也需要去承担相应的风险。



|
检测咨询热线:13545129656   陈工QQ:3373885524

|公司网站:www.yiwotest.com

|武汉宜沃检测技术有限公司


分享到:
联系我们
公司地址:湖北省武汉市洪山区佰港城 邮政编码:430070 客服邮箱:3373885524@qq.com
服务热线
150-7102-0417
在线客服
QQ:3373885524
服务时间:9:00-22:00
点击这里给我发消息