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AFM测试常见的问题及解答(二)

发表时间:2021-04-20 10:36作者:宜沃检测

1.原子力显微镜(AFM)图像处理软件中Ra Rq Rz分别代表什么意思

Ra 普通平均

Rq 均方根

Rz 是z方向的最大值



2.液体样品如何控制浓度测试到单层高度?

答:这个主要看你的粉末的分散容易程度,能否测到单层要看你的分散效果,可以尝试不同的溶液,增加超声时间和静置时间,让样品分散均匀才能测到单层的样品。



3.自由振幅哪里看?

答:自由振幅在Tun界面可以看到,这个值主要是DriveAmplitude产生的,所谓的DriveAmplitude指的探针夹后面的陶瓷片的振动幅度,来给探针提供驱动力的,那么自由振幅的大小即由DriveAmplitude的大小决定。



4.导电玻璃表面的薄膜厚度用什么模式测试呢?

答:首先测试厚度应该制作样品的台阶才能测到厚度,至于模式的选择还是笔者认为这三种模式都可以,根据你薄膜的性质来判断,比如有机薄膜,那么我们就选择力比较小的峰值力模式。



5.在使用原子力显微镜扫描样品表面形貌时,通过什么方式驱动探针?

原子力显微镜:是一种利用原子,分子间的相互作用力来观察物体表面微观形貌的新型实验技术.它有一根纳米级的探针,被固定在可灵敏操控的微米级弹性悬臂上.当探针很靠近样品时,其顶端的原子与样品表面原子间的作用力会使悬臂弯曲,偏离原来的位置.根据扫描样品时探针的偏离量或振动频率重建三维图像.就能间接获得样品表面的形貌或原子成分.


6.AFM能用于测纳米柱的粗糙度吗?

答:可以测试,具体也要看纳米柱的直径,如果小于10nm,那就比较困难了。



7.峰值力模式如何在0.05和0.15选择合适的一个数值SETPOINT呢?

答:选择不同的数值看测试效果,没有固定的数值,只能我们在测试过程中调整数值来满足我们的测试需求。



8.颗粒在油面水面的测量可以吗?

答:可以测试,难度较大,应该使用液下模式,注意使用专用的探针和探针夹。



9.能否在二维形貌图中找到指定位置测试力曲线?

答:不能实现。



10.如何确定玻璃表面的测试范围?

答:根据自己的需求确定,一般微米级即可,不建议大于30微米。



11.原子力显微镜中表示粗糙度的 RMS 与Rq 是一个东西吗?

Rq 均方根粗糙度 Rq是在取样长度内,轮廓偏离平均线的均方根值,它是对应于Ra的均方根(Rms)参数。这里 Rq的引出均方根值是将每一个值平方,然后将该平方平均后再开平方。 与算术平均值相比,Rms(均方根值)具有侧重给出较高值的作用。这可用下面的三组值来说明: 3, 4, 5 2, 4, 6 1, 4, 7 其每一组的算术平均是4,这三组中,较高的值按1连续增加(5,6,7),正好等于较低的值按1连续减小(3,2,1)。其各自的rms(均方根值)值是,说明最大数字的增加,在权重上超过了最低数字的减小。这就是为什么会有两个平均值(Ra和Rq)的原因。Ra可容易的从轮廓记录中得到,因此该参数最初适用在粗糙度测量仪器变成通用仪器之前。从统计学来讲,rms(均方根值)值比算术平均值更有意义。



12.获得主形貌和电荷分布图,期间要换探针吗?

答:不需要更换探针,这是一整个过程,基于一根探针。




13.AFM能有办法测电位吗?

答:可以测试,KPFM就可以。



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