AFM测试常见的问题及解答（二)

1.原子力显微镜(AFM)图像处理软件中Ra Rq Rz分别代表什么意思

Ra 普通平均

Rq 均方根

Rz 是z方向的最大值

2.液体样品如何控制浓度测试到单层高度？

答：这个主要看你的粉末的分散容易程度，能否测到单层要看你的分散效果，可以尝试不同的溶液，增加超声时间和静置时间，让样品分散均匀才能测到单层的样品。

3.自由振幅哪里看？

答：自由振幅在Tun界面可以看到，这个值主要是DriveAmplitude产生的，所谓的DriveAmplitude指的探针夹后面的陶瓷片的振动幅度，来给探针提供驱动力的，那么自由振幅的大小即由DriveAmplitude的大小决定。

4.导电玻璃表面的薄膜厚度用什么模式测试呢？

答：首先测试厚度应该制作样品的台阶才能测到厚度，至于模式的选择还是笔者认为这三种模式都可以，根据你薄膜的性质来判断，比如有机薄膜，那么我们就选择力比较小的峰值力模式。

5.在使用原子力显微镜扫描样品表面形貌时，通过什么方式驱动探针?

原子力显微镜：是一种利用原子,分子间的相互作用力来观察物体表面微观形貌的新型实验技术.它有一根纳米级的探针,被固定在可灵敏操控的微米级弹性悬臂上.当探针很靠近样品时，其顶端的原子与样品表面原子间的作用力会使悬臂弯曲，偏离原来的位置.根据扫描样品时探针的偏离量或振动频率重建三维图像.就能间接获得样品表面的形貌或原子成分.

6.AFM能用于测纳米柱的粗糙度吗？

答：可以测试，具体也要看纳米柱的直径，如果小于10nm，那就比较困难了。

7.峰值力模式如何在0.05和0.15选择合适的一个数值SETPOINT呢？

答：选择不同的数值看测试效果，没有固定的数值，只能我们在测试过程中调整数值来满足我们的测试需求。

8.颗粒在油面水面的测量可以吗？

答：可以测试，难度较大，应该使用液下模式，注意使用专用的探针和探针夹。

9.能否在二维形貌图中找到指定位置测试力曲线？

答：不能实现。

10.如何确定玻璃表面的测试范围？

答：根据自己的需求确定，一般微米级即可，不建议大于30微米。

11.原子力显微镜中表示粗糙度的 RMS 与Rq 是一个东西吗?

Rq 均方根粗糙度 Rq是在取样长度内，轮廓偏离平均线的均方根值，它是对应于Ra的均方根(Rms)参数。这里 Rq的引出均方根值是将每一个值平方，然后将该平方平均后再开平方。 与算术平均值相比，Rms（均方根值）具有侧重给出较高值的作用。这可用下面的三组值来说明: 3, 4, 5 2, 4, 6 1, 4, 7 其每一组的算术平均是4，这三组中，较高的值按1连续增加（5，6，7），正好等于较低的值按1连续减小（3，2，1）。其各自的rms（均方根值）值是，说明最大数字的增加，在权重上超过了最低数字的减小。这就是为什么会有两个平均值(Ra和Rq)的原因。Ra可容易的从轮廓记录中得到，因此该参数最初适用在粗糙度测量仪器变成通用仪器之前。从统计学来讲,rms（均方根值）值比算术平均值更有意义。

12.获得主形貌和电荷分布图，期间要换探针吗？

答：不需要更换探针，这是一整个过程，基于一根探针。

13.AFM能有办法测电位吗？

答：可以测试，KPFM就可以。

|检测咨询热线：13545129656   陈工QQ：3373885524

|公司网站：www.yiwotest.com

|武汉宜沃检测技术有限公司

免责声明：部分文章整合自网络，因内容庞杂无法联系到全部作者，如有侵权，请联系删除，我们会在第一时间予以答复，万分感谢。