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一、XPS简介XPS 就是X射线光电子能谱(X-rayPhotoelectron Spectroscopy)的简称，它是以X射线为激发光源的光电子能谱，是一种对固体表面进行定性、定量分析和结构鉴定的实用性很强的表面分析方法。XPS是一种高灵敏超微量表面分析技术，样品分析的深度约为20埃，可分析除H和He以外的所有元素，可做定性及半定量分析。 定性:从峰位和峰形可以获知样品表面元素成分、化学态...

X射线光电子能谱分析(XPS测试)基本原理X射线光电子能谱分析(X-ray photoelectron spectroscopy, XPS)是用X射线去辐射样品，使原子或分子的内层电子或价电子受激发射出来。被光子激发出来的电子称为光电子，可以测量光电子的能量，以光电子的动能为横坐标，相对强度(脉冲/s)为纵坐标可做出光电子能谱图，从而获得待测物组成。X射线光电子能谱分析(XPS测试)特点X射...

穆斯堡尔光谱仪可以测什么信息？穆斯堡尔光谱怎么看？相信有很多同学对穆斯堡尔光谱不是很了解，那么读了这篇章相信你会有一个全面的了解。我们还是依旧先来看一下设备的原理吧！一、原理介绍：穆斯堡尔效应：即原子核辐射的无反冲共振吸收。这个效应首先是由德国物理学家穆斯堡尔于1958年首次在实验中实现的，因此被命名为穆斯堡尔效应。 理论上，当一个原子核由激发态跃迁到基态，发出一个γ射线光子。当这个光子遇到...

tem测试需要多少样品？有同学对TEM测试样品的用量不是特别清楚，今天宜沃检测小编专门整理了一篇样品要求和制备的资料，希望对大家有帮助。做tem测试样品要求：1. 样品状态粉末、液体样品均可，薄膜和块体等无法直接测试，需要离子减薄、双喷、FIB、切片制样。2. 样品成分要求该说明仅针对材料测试类样品，生物类样品与材料类处理方式完全不同。一般对测试样品有如下几方面的要求：安全性：无毒、无放射性...

聚焦离子束技术（FIB）原理FIB就是聚焦离子束技术（Focused Ion beam）简称FIB，FIB的原理是利用电透镜将离子源（大多数FIB都用镓Ga，也有设备具有氦He和氖Ne离子源)产生的离子束经过离子枪加速,聚焦后作用于样品表面，实现样品材料的剥离、沉积、注入、切割和改性。将扫描电子显微镜（SEM）与FIB集成为一个系统，可充分发挥各自的优点，加工过程中可利用电子束实时监控样品加...

XRD的图谱怎么看？有的同学做了XRD测试项目，但是不知道图谱怎么看，所以针对这个问题，宜沃检测小编整理了相关信息，希望能帮到你们。一、我们先来看一下XRD的原理： 当一束单色X射线入射到晶体时，由于晶体是由原子规则排列成的晶胞组成，这些规则排列的原子间距离与入射X射线波长有相同数量级，故由不同原子散射的X射线相互干涉，在某些特殊方向上产生强X射线衍射，衍射线在空间分布的方位和强度，与晶体结...

ICP-OES、ICP-AES、ICP-MS你知道它们各自的特点是什么吗？它们到底有什么联系和区别呢？宜沃检测小编今天带你来详细了解。我们先来搞清楚ICP-OSE 和ICP-AES的关系。OES是OpticalEmission SpectrometerAES是Atomic EmissionSpectroscopy。两者都是指电感耦合等离子体原子发射光谱，是一样的。电感耦合等离子体原子发射光谱...

基本原理GPC是凝胶渗透色谱的简称，色谱其实是门分离技术。GPC是一种特殊的液相色谱，所用仪器实际上就是一台高效液相色谱（HPLC）仪，主要配置有输液泵、进样器、色谱柱、浓度检测器和计算机数据处理系统。与HPLC最明显的差别在于二者所用色谱柱的种类（性质）不同:HPLC根据被分离物质中各种分子与色谱柱中的填料之间的亲和力不同而得到分离，GPC的分离则是体积排除机理起主要作用。GPC色谱柱装填...

一、SEM的原理介绍：扫描电子显微镜(Scanning Electron Microscope,SEM简称SEM）是继透射电镜(TEM）之后发展起来的一种电子显微镜。1952年，英国工程师Charles 0atley制造出了第一台扫描电子显微镜(SEM)。SEM的成像原理和光学显微镜、透射电子显微镜不同，它是以电子束作为照明源，把聚焦得很细的电子束以光栅状扫描方式照射到试样上，通过电子与试样...

原子力显微镜（AFM）原子力显微镜（Atomic Force Microscopy）简称：AFM，一种可用来研究包括绝缘体在内的固体材料表面结构的分析仪器。原理：原子力显微镜的工作模式是以针尖与样品之间的作用力的形式来分类的，原子力显微镜利用微悬臂感受和放大悬臂上尖细探针与受测样品原子之间的作用力，从而达到检测的目的(扫描样品时，利用传感器检测这些变化，就可获得作用力分布信息，从而以纳米级分...